R——高温与室温（一般取25℃）的差值t——恒定高温持续时间（h）e=2.718282 筛选强度与温度、时间对应表：R 0 t 20.0012 40.0024 60.0037 80.0049 100.0061 120.0073 160.00高温老化的时间计算阿列纽斯加速模型（ArrheniusModel）的加速因子计算方法：公式为：AF=exp{(Ea/k)*(1/Tu-1/Ts)+RHs2-RHu2)} 若以产品使用寿命200000h为限，使用温度40°计
1、升温时间的测试将温度传感器置于高温老化试验箱工作空间内任意一点，用全功率加热，记录工作室温度从室温升至第一次达到最高工作温度的时间，其结果应不超过120min。2、表面温度测试条件：温度121 ,100R.H饱和蒸气压力1.04Kgcm2, 立式，zuì终尺寸请以实物为准时间范围：000Hr 999Hr hast加速老化试验箱半导体hast老化试验箱HAST加速老化试验箱介绍
产品的高温老化和带载老化就是让产品尽早进入壮年期，避免初期失效但是如果产品老化的时间达到一定的水平，例如产品外壳温度125摄氏度，老化时间1000小时，就是考察产品的寿命和百度爱采购为您找到3235条最新的高低温试验箱最高温度产品的详细参数、实时报价、行情走势、优质商品批发/供应信息，您还可以免费查询、发布询价信息等。
五、高温老化温度和时间：高温老化温度、时间如下所示可任选一种：a)室温条件下通电连续老化不得少于96 h; b)40℃±2℃条件下通电连续老化不得少于72 h; c)45万变不离其宗的热老化方法，查看芯片的PDF资料，了解芯片正常运行温度的范围，截取60%-80%最高温左右的温度为高温老化的试验温度。芯片装到PCBA电路上，通电运行，可放入高温烘箱
高温老化温度、时间如下所示可任选一种：a)室温条件下通电连续老化不得少于96 h; b)40℃±2℃条件下通电连续老化不得少于72 h; c)45℃±2℃条件下通电连续老化不得少于48 h; d)50℃1、升温时间的测试在高温老化试验箱内任意位置放置温度传感器在试验箱体内，用全功率加热，将室内温度从室温上升到第一次达到最高工作温度时记录下来，测量结果要低于120min。2、表
