(式中，ν21为入射光频率，Ε1和E2分别表示跃迁前后的电子能级)才能够被物质吸收。因此，每一种物质的原子或分子都有它本身的特征吸收谱线和吸收带，这就是吸收光谱用于定性分析的依据2、熟悉激光器光谱特性的有关概念，并用相应的方法进行测量。二、实验仪器说明：1、AV6361光谱分析仪的示意图：2、几个常用按钮的使用说明：第一部分：WAVELENGTH(主要负责横
1550nm F-P半导体激光器P-I特性曲线测量a. 将1550nm半导体激光器控制端口连接至主机LD1,光输出连接至主机OPM端口，检杏无误后打开电源b. 设置OPM工作模式为OPM/mW模式，最程(RTO)切换实验仪器主要包括半导体激光器、光功率指示仪、WGD-6 光学多道分析器、载物平台和透镜、衰减片、偏振器等光学元件。实验所用半导体激光器中心波长在可见光波
三、实验内容(1)半导体激光器特性测试平台的搭建(2)半导体激光器P-I特性测量以及阈值电流的计算；3)半导体激光器光谱特性测量。四、实验步骤(一)功率的测量：17 .熟悉光栅光谱仪的原理及使用操作，测量半导体激光器荧光谱、激光谱及输出波长与温度的关系。8.熟悉用计算机进行视频图像采集、图像数据转换及数据处理。
可调谐半导体激光吸收光谱(Tunable Diode Laser Absorption Spectroscopy)技术主要是利用可调谐半导体激光器的窄线宽和波长随注入电流改变的特性实现对分子的单个或几个距离很近很半导体激光器的光谱特性测试是指在恒定工作电流条件下，激光器对其光谱特性指标的测量及计算，这些参数包括如下。2.1 峰值波长峰值波长是指施加电流到恒定值时激光器所呈现的波长特
阈值电流(Ith) 的测量方法是通过测量功率-电流曲线(P-I曲线) 找阈值点对应的电流。图18-3为某半导体激光器的P-I特性示意图，实线为P-I曲线，点划线是对P-I关系一半导体激光器的压降通常是在电性能特性测量中得到。这个特性类似于其他半导体器件的模拟特性，不随温度的变化而变化，如图4所示。一般来讲，激光器工作在额定功率情况下，其压降大约为1
